半導體器件試驗冷熱沖擊試驗箱是一種具有溫度控制功能的設備，通過(guò)快速改變溫度來(lái)模擬芯片在不同環(huán)境下的工作狀態(tài)。它可以迅速將芯片從較低溫度迅速加熱到較高溫度，或者相反。這種溫度的迅速變化可以導致材料的膨脹和收縮，從而引發(fā)物理和化學(xué)性質(zhì)的改變。通過(guò)在冷熱沖擊箱中進(jìn)行長(cháng)時(shí)間的測試，科學(xué)家們可以模擬芯片在不良條件下的工作情況，以便評估其性能和可靠性。

在冷熱沖擊箱中進(jìn)行的測試通常包括冷凍、加熱和恒溫三個(gè)階段。首先，芯片會(huì )被暴露在較低溫度的環(huán)境中，來(lái)模擬在寒冷的氣候下工作時(shí)的情況。然后，溫度會(huì )迅速上升到較高的水平，來(lái)測試芯片在高溫環(huán)境下的穩定性和性能。至后，在恒溫條件下進(jìn)行長(cháng)時(shí)間測試，來(lái)模擬芯片在常溫環(huán)境下的工作情況。通過(guò)這一系列的測試，科學(xué)家們可以綜合評估芯片在不同溫度下的性能和可靠性，為電子設備的開(kāi)發(fā)和制造提供重要的參考依據。

規格技術(shù)參數：

  型號：BY-260D

  ①規格(容量)：63升

  測試區尺寸：400*350*350(W*D*Hmm)

  外形尺寸(約)：1500*1450*1900(W*D*Hmm)

  ②規格(容量)：80升

  測試區尺寸：500*400*400(W*D*Hmm)

  外形尺寸(約)：1600*1500*2000(W*D*Hmm)

  ③規格(容量)：150升

  測試區尺寸：600*500*500(W*D*Hmm)

  外形尺寸(約)：1700*1600*2000(W*D*Hmm)

  ④規格(容量)：225升

  測試區尺寸：500*600*750(W*D*Hmm)

  外形尺寸(約)：1800*1800*2000(W*D*Hmm)

  ⑤規格(容量)：500升

  測試區尺寸：800*800*800(W*D*Hmm)

  外形尺寸(約)：2600*1900*2000(W*D*Hmm)

  ⑥規格(容量)：1000升

  測試區尺寸：1000*1000*1000(W*D*Hmm)

  外形尺寸(約)：2800*2000*2200(W*D*Hmm)

  高溫儲熱范圍：+60℃--+200℃

  低溫儲冷范圍：-10℃～-55℃(A型),-10℃～-65℃(B型),-10℃～-75℃(C型)

  試驗范圍：

  高溫：+60℃~+150℃

  低溫：-10℃~-40℃(A型)；-10℃~-55℃(B型)；-10~-60℃(C型)

  升溫時(shí)間：+60℃~+200℃約需25min

  降溫時(shí)間：+20℃~-55℃小于60min；+20℃~-65℃小于75min；+20℃~-75℃小于90min；

  風(fēng)門(mén)切換時(shí)間：小于或等于10S

  溫度恢復時(shí)間：5min

  溫度波動(dòng)：±0.5℃

  溫度偏差：±2℃

  免費送貨上門(mén)，并安裝調試操作介紹，同時(shí)進(jìn)行機器操作技術(shù)培訓。(直到需方員工獨立操作并滿(mǎn)意為止)。

  本產(chǎn)品符合GB/T2423.1.2GB10592-89GJB150等國家標準。

溫度程控器：7寸液晶數顯觸摸屏控制器。

   a.控制器規格:精度:±0.1℃+1digit.分辨率:±0.1.

   具有上下限待機及警報功能.

   溫度入力信號:T型感溫線(xiàn).P.I.D控制參數設定,P.I.D自動(dòng)演算.

   b.畫(huà)面顯示功能:采用圖控軟件畫(huà)面對談式,無(wú)須按鍵輸入,屏幕直接觸摸選項:

   包括程序設定、曲線(xiàn)顯示、歷史數據、手動(dòng)運轉、自動(dòng)運轉、輔助設定等.

   可顯示目前執行狀態(tài)、溫度設定值、時(shí)間設定值、剩余時(shí)間、剩余循環(huán)次數

   具單獨程序編輯畫(huà)面,可輸入溫度,時(shí)間及循環(huán)次數.

   溫度程序具實(shí)時(shí)顯示程序曲線(xiàn)執行功能

   顯示故障狀態(tài)及說(shuō)明故障排除方法

   屏幕可作背光調整,屏幕顯示保護功能可作定時(shí),關(guān)閉設定.

   中、英文可相互切換.

   c.程序容量及控制功能:

   可使用的程序組:120個(gè)PATTEN。

   可重復執行命令:可達999次。LSEGMENTS時(shí)間設定0～99Hour59Min。

   程序之制作采對談式設定功能。

   9組程序相互連接功能.

   具有斷電程序記憶,復電后自動(dòng)啟動(dòng)并接續執行程序功能。

   高低溫沖擊時(shí)自動(dòng)補償溫度功能.

   程序執行時(shí)可實(shí)時(shí)顯示圖形曲線(xiàn)。

   除霜時(shí)間、次數及除霜溫度設定及執行功能.

   具有預約啟動(dòng)及關(guān)機功能.

   具有日期,時(shí)間調整功能.

半導體器件試驗冷熱沖擊試驗箱主要配置：

  1、內箱材質(zhì)采用SUS304不銹鋼板，外箱材質(zhì)采用SEEC鋼板外加靜電噴涂或不銹鋼拉絲板，增加外觀(guān)質(zhì)感及潔凈度，造型美觀(guān)大方。

  2、箱體保溫層采用高強度PU及保溫棉，達到優(yōu)良的保溫效果。

  3、試驗箱配置50mm,測試孔，配發(fā)泡硅膠塞密封，可外接測試電源線(xiàn)或信號線(xiàn)使用。

  4、機器底部采用高品質(zhì)可固定式PU活動(dòng)輪，附水平腳。

  5、7英寸溫濕度控制器，具有操作簡(jiǎn)單，易學(xué)，控制精度高，PID模式，可10%以上。

  6、可以獨立設定高溫、低溫、冷熱沖擊三種不同條件，具備高低溫試驗機的功能。

  7、可設定循環(huán)次數及除霜次數自動(dòng)(手動(dòng))除霜.出風(fēng)口于回風(fēng)口感知器檢測控制，風(fēng)門(mén)機構切換時(shí)間為10秒內完成。

  8、具備全自動(dòng)，高精密系統回路、任一機件動(dòng)作，*有P.L.C鎖定處理，全部采用P.I.D自動(dòng)演算控制。

  9、溫度恢復時(shí)間為5分鐘內完成。

  10、運轉中發(fā)生異常狀況時(shí),螢幕上即刻自動(dòng)顯示故障原因，并于發(fā)現輸入電力不穩定時(shí),具有緊急停機裝置。

  11、可選配USB接口存儲方便，到有標準的RS-232或RS-485計算機通訊接口。實(shí)現遠程控制。